Fallos peligrosos en el SIS
Al calcular la Probabilidad de Fallo de una Función Instrumentada de Seguridad (SIF) lo más importante son los fallos peligrosos, como vemos en las siguientes fórmulas de las arquitecturas 1oo1 y 1oo2.
El valor Lambda DD es la tasa de fallos peligrosos detectados y Lambda DU corresponde a los no detectados.
Podemos desglosar los fallos peligrosos en 4 grupos:
- Fallos DD: son los fallos peligrosos detectados por los diagnósticos de producto, es decir, por los diagnósticos integrados por el fabricante del PLC de seguridad, del transmisor, posicionador, etc. En las válvulas, al ser elementos mecánicos, no tenemos diagnósticos de producto.
- Fallos DU convertibles a DD: son los fallos peligrosos no detectados por los diagnósticos automáticos pero que pueden detectarse si implementamos en la SIF algún diagnóstico de aplicación. Son casos típicos, por ejemplo, la detección de la señal analógica fuera de rango o la prueba PST (Partial Stroke Test) en las válvulas de seguridad.
- Fallos DU1: son fallos peligrosos no detectados por los diagnósticos automáticos pero que detectamos en las pruebas manuales (proof tests) periódicas realizadas a la SIF cada TI horas (Test Interval). A mayor efectividad de estas pruebas mayor valor del parámetro Cpt (coverage proof test) que es muy importante en las fórmulas del cálculo de la probabilidad de fallo.
- Fallos DU2: son los fallos peligrosos que nunca vamos a detectar, ni con los diagnósticos automáticos ni en las pruebas manuales. Son fallos “ocultos” que no dan la cara en las pruebas y que pueden ser de muy diversa índole. Hay que tener en cuenta que las pruebas que debemos realizar periódicamente a todas las funciones de seguridad nunca son perfectas.
La efectividad de las pruebas, por tanto, la podemos definir de la siguiente forma:
Cpt= DU1 / (DU1+DU2)
En la industria de proceso este valor varía entre el 70 y 95% en los subsistemas SENSOR y LOGIC SOLVER, y entre 40 y 95% en el subsistema ACTUADOR.
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